超聲波無損探傷檢測中缺陷定位及計(jì)算方式
超聲無損檢測缺陷定位計(jì)算及分析
無損探傷檢測設(shè)備對超聲信號(hào)完成了降噪處理后,可以清晰地分辨出缺陷信息的波形,并觀察波形可以發(fā)現(xiàn),超聲信號(hào)的缺陷信息部分為一些突變信號(hào),并且這些突變之間不存在規(guī)律性。在進(jìn)行檢測時(shí)通過波形的觀察,可以發(fā)現(xiàn)在檢測時(shí),產(chǎn)生的突變信號(hào)就說明該工件存在缺陷,突變越多則說明工件存在的缺陷越多。
采用超聲顯示中的 A 型顯式,利用降噪處理后的信號(hào)對缺陷進(jìn)行定位計(jì)算,我們可以根據(jù)橫軸中超聲波傳播時(shí)間,可以推算出該缺陷在工件中的深度,即距離超聲探測面的距離。當(dāng)缺陷距離探測面越遠(yuǎn)時(shí),檢測相對誤差越小,可以看出 1 號(hào)缺陷的相對誤差最大,說明在實(shí)際檢測過程中存在固定誤差,當(dāng)缺陷與探測面距離較近時(shí),固定誤差值占缺陷深度值較大,當(dāng)缺陷與探測面距離較遠(yuǎn)時(shí),固定誤差值占缺陷深度值較小,因此相比較不同缺陷,當(dāng)缺陷越深,相對誤差越小。
對于存在的誤差有以下幾種原因:
(1)試驗(yàn)誤差:在進(jìn)行試驗(yàn)過程中,對于時(shí)間測量有一定的誤差,因此對工件的缺陷精度定位時(shí)存在誤差;(2)探頭的選?。禾筋^的頻率不同,會(huì)對信號(hào)產(chǎn)生影響,從而造成一定的誤差;
(3)降噪過程中,處理后的信號(hào)波形使計(jì)算時(shí)產(chǎn)生了一定程度的定位誤差。
最小發(fā)射信號(hào)
在無損探傷檢測中,當(dāng)系統(tǒng)確定時(shí),缺陷越小,反射信號(hào)越小。最小發(fā)射信號(hào)的測試,可以為定量計(jì)算提供依據(jù),以便定量分析時(shí),根據(jù)超聲探頭的靈敏度,計(jì)算缺陷的最小檢測值。在檢測時(shí),由于發(fā)射電壓不同導(dǎo)致信號(hào)幅值有所變化,在利用算法處理時(shí),會(huì)使較弱的信號(hào)被視為噪聲信號(hào)被處理,從而無法獲取準(zhǔn)確的波形信息。因此針對本課題,需要分析在不同電壓下,檢測信號(hào)通過算法處理能否保留有效信息。